X射線熒光鍍層測厚儀

產(chǎn)品簡介

X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時(shí)測量5層（4層鍍層+底材），每層可同時(shí)分析10種元素。成分測量可同時(shí)分析25種元素。1納米至120um可測測厚儀

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-03-10

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：266

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體產(chǎn)品

半導(dǎo)體封裝與貼合精密對(duì)位晶圓搬運(yùn)機(jī)系統(tǒng) 博曼XRF鍍層測厚儀納米壓痕儀顯微鏡LED曝光系統(tǒng) UTA-IA系列

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X射線熒光鍍層測厚儀產(chǎn)品介紹

1.非接觸，無損檢測；

2.測量范圍廣；13~92元素范圍可測；

3.樣品無需前處理，可以直接測試；

4.超高效的分析速率，1秒即可出結(jié)果；

5.具備成分分析功能，可同時(shí)測定多種元素。

X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時(shí)測量5層（4層鍍層+底材），每層可同時(shí)分析10種元素。成分測量可同時(shí)分析25種元素。1納米至120um可測。

產(chǎn)品規(guī)格

X射線熒光鍍層測厚儀

Axis Pro F

AxisProFC的無覆蓋型。適用于采用手套箱進(jìn)行采樣。

X射線熒光鍍層測厚儀

手套箱示意圖

全電動(dòng)系統(tǒng)

5µm大小的對(duì)象品也可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定采樣，設(shè)置好樣品后僅需移動(dòng)PC鼠標(biāo)，標(biāo)準(zhǔn)配備電動(dòng)交接次級(jí)臺(tái)

采集樣品的交接由程序控制，不會(huì)失敗，采用角度固定臂，設(shè)置更加簡單

通用規(guī)格

X射線熒光鍍層測厚儀

AxisPro FC/SS/F　通用應(yīng)用

X射線熒光鍍層測厚儀

采樣儀器

軟件主要功能

X射線熒光鍍層測厚儀

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X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時(shí)測量5層（4層鍍層+底材），每層可同時(shí)分析10種元素。成分測量可同時(shí)分析25種元素。1納米至120um可測測厚儀

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