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產(chǎn)品分類
Dual vision -2.0x/-8.0x 是一款雙光路、雙倍率光學(xué)系統(tǒng),支持2/3英寸相機(jī),鏡頭倍率-2.0x/-8.0x,物方分辨率1.15um,并且自帶同軸點(diǎn)光源照明以及環(huán)形光源。鏡頭接口是C口,可根據(jù)客戶定制不同的鏡頭。
FC UD Optics -3.0x 是一款上下對(duì)位光學(xué)系統(tǒng),支持1.1英寸相機(jī),鏡頭倍率-3.0x,物方分辨率1.15um,并且自帶同軸點(diǎn)光源照明,也可以集成環(huán)形光源。鏡頭接口是C口,可根據(jù)客戶定制不同的鏡頭。
Up Down Look-0.84x是一款上下對(duì)位光學(xué)系統(tǒng),支持1/2.5英寸相機(jī),鏡頭倍率-0.84x,物方分辨率6um,并且自帶同軸點(diǎn)光源照明,也可以集成環(huán)形光源。鏡頭接口是C口,可根據(jù)客戶定制不同的鏡頭。
多功能通用晶圓搬運(yùn)機(jī)系統(tǒng)YIT系列對(duì)應(yīng)各種檢查裝置,適用于晶圓、玻璃相關(guān)產(chǎn)品自動(dòng)搬運(yùn)系統(tǒng)
顯微鏡下微取樣系統(tǒng)$nCollectionPro:微小礦物自動(dòng)挑選/采集/集聚系統(tǒng)$n將耗費(fèi)礦物學(xué)研究者時(shí)間和精力的挑選、采集、集聚作業(yè)變得省力。$n通過(guò)結(jié)合圖像處理系統(tǒng)和AxisPro,可使用自動(dòng)程序完成對(duì)象品的觀察、挑選、采集、集聚。$n也可用于進(jìn)行晶片、玻璃、膜濾器等異物掃描檢查的污染分析儀(圖像處理、挑選、數(shù)據(jù)收集、坐標(biāo)&圖像獲取)。
X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測(cè)厚儀可完成鍍層厚度測(cè)量、元素分析、電鍍液分析。最多同時(shí)測(cè)量5層(4層鍍層+底材),每層可同時(shí)分析10種元素。成分測(cè)量可同時(shí)分析25種元素。1納米至120um可測(cè)測(cè)厚儀